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庞薇

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院光电技术研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文专利

主题

  • 3篇偏振
  • 3篇光学
  • 3篇光学薄膜
  • 3篇光学薄膜元件
  • 3篇保真度
  • 2篇功率计
  • 2篇光功率
  • 2篇光功率计
  • 2篇测量方法
  • 1篇圆偏振
  • 1篇圆偏振光
  • 1篇偏振光
  • 1篇椭圆偏振
  • 1篇椭圆偏振光
  • 1篇测量线

机构

  • 3篇中国科学院

作者

  • 3篇刘志国
  • 3篇刘洪祥
  • 3篇庞薇

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 1篇2012
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
一种光学薄膜偏振保真度的测量方法
一种光学薄膜偏振保真度的测量方法，其特征在于：激光器发射特定波长激光光束，通过起偏器后产生振动方位角45°线偏振光，经待测光学薄膜元件反射后，旋转检偏器，通过光功率计测量最大功率与最小功率，则最大功率与最小功率之比即为光...
刘洪祥刘志国庞薇
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一种光学薄膜偏振保真度的测量方法
一种光学薄膜偏振保真度的测量方法，其特征在于：激光器发射特定波长激光光束，通过起偏器后产生振动方位角45°线偏振光，经待测光学薄膜元件反射后，旋转检偏器，通过光功率计测量最大功率与最小功率，则最大功率与最小功率之比即为光...
刘洪祥刘志国庞薇
文献传递
一种使用椭偏仪测量光学薄膜偏振保真度的方法
本发明提供一种使用椭偏仪测量光学薄膜偏振保真度的方法，根据椭圆偏振光的理论基础，建立光学薄膜的偏振保真度与相位延迟之间关系，再通过可变角椭偏仪测量线偏振光经过单个光学薄膜元件反射后的相位延迟，确定光学薄膜的偏振保真度。该...
庞薇刘洪祥刘志国
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