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袁磊

作品数:8 被引量:32H指数:4
供职机构:中国科学院物理研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学化学工程一般工业技术电子电信更多>>

文献类型

  • 6篇期刊文章
  • 2篇专利

领域

  • 5篇理学
  • 2篇化学工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 5篇化学气相
  • 5篇化学气相沉积
  • 4篇氮化碳
  • 4篇微波等离子体
  • 3篇气相沉积
  • 2篇氮化碳薄膜
  • 2篇等离子体化学...
  • 2篇碳氮薄膜
  • 2篇气体放电
  • 2篇微波等离子体...
  • 2篇晶相
  • 2篇工作气体
  • 2篇放电
  • 2篇MPCVD
  • 1篇一氧化碳
  • 1篇硬材料
  • 1篇硬膜
  • 1篇气源
  • 1篇金刚石
  • 1篇晶态

机构

  • 8篇中国科学院
  • 5篇北京科技大学

作者

  • 8篇袁磊
  • 5篇常香荣
  • 5篇张秀芳
  • 5篇时东霞
  • 5篇张永平
  • 5篇顾有松
  • 5篇田中卓
  • 2篇赵敏学
  • 2篇段振军
  • 2篇顾有松
  • 2篇常香荣
  • 2篇田中卓
  • 1篇李奇志

传媒

  • 1篇物理
  • 1篇中国科学(A...
  • 1篇功能材料
  • 1篇材料研究学报
  • 1篇真空科学与技...
  • 1篇真空电子技术

年份

  • 1篇2002
  • 3篇2000
  • 3篇1999
  • 1篇1994
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
超硬薄膜β-C_3N_4的制备和表征被引量:5
2000年
本文采用微波等离子体化学气相沉积 (MPCVD)法 ,用高纯氮气 (99.999% )和甲烷 (99.9% )作反应气体 ,在单晶硅和多晶铂基片上沉积 β -C3N4薄膜。X射线能谱 (EDX)分析了这种晶态C -N膜的化学成分 ,对不同样品的分析结果表明 ,N/C原子比在 1.1~ 2 .0范围内。X射线衍射结构分析结果与计算的α -和 β -C3N4单相X射线的峰位和强度相比较 ,说明它是α -和 β -C3N4的混合物。FT -IR和Raman谱支持C -N共价键的存在。薄膜的体弹性模量达到 349GPa。
张永平顾有松常香荣田中卓时东霞张秀芳袁磊
关键词:超硬薄膜MPCVD
微波等离子体化学气相沉积合成晶相碳氮薄膜
本发明涉及用微波等离子体化学气相沉积法合成碳氮薄膜及装置。将基片经过预处理后,置于工作腔内,按一定比例通入工作气体,然后将微波通入工作腔内,使气体放电产生等离子体从而沉积薄膜。用这种方法合成的氮化碳薄膜均匀、致密,无杂质...
田中卓袁磊顾有松段振军常香荣赵敏学
文献传递
微波等离子体化学气相沉积合成晶相碳氮薄膜
本发明涉及用微波等离子体化学气相沉积法合成碳氮薄膜及装置。将基片经过预处理后,置于工作腔内,按一定比例通入工作气体,然后将微波通入工作腔内,使气体放电产生等离子体从而沉积薄膜。用这种方法合成的氮化碳薄膜均匀、致密,无杂质...
田中卓袁磊顾有松段振军常香荣赵敏学
文献传递
用CO和CH_4作为碳气源生长金刚石的比较
1994年
使用一氧化碳作碳源气体,用微波等离子体化学气相沉积法在单晶硅上制备金刚石薄膜,分析氧对金刚石生长的影响。
李奇志钱三德袁磊
关键词:CVD金刚石一氧化碳甲烷
C_3N_4硬膜的人工合成和鉴定被引量:12
1999年
用微波等离子体化学气相沉积法 (MPCVD)在硅和铂衬底上得到高质量的C3 N4薄膜 .计算了α C3 N4和β C3 N4单相X射线谱的峰位和强度 ,沉积膜的X射线谱具有两相的所有强峰 ,证明它是α 和β C3 N4的混合物 .总的N/C比在 1 0~ 2 0之间 .FT IR和Raman谱支持C—N共价键的存在 .体积弹性模量达到 34 9GPa .
顾有松张永平常香荣田中卓陈难先时东霞张秀芳袁磊
关键词:氮化碳MPCVD硬膜化学气相沉积
理论预言的氮化碳超硬膜研究新进展被引量:12
1999年
β-C3N4的理论预言发表之后,经过广大科学工作者近10年的努力,已经取得了一些重要进展.理论上对碳氮化合物的研究已经更为广泛和深入.实验合成方面也取得了长足的进展.文章作者在Si、Pt等基底上初步合成了晶态的β-C3N4薄膜,实验分析表明,薄膜主要由α-或β-C3N4晶相组成,成分接近理论值,N/C原子比接近4/3。
顾有松张永平常香荣田中卓时东霞张秀芳袁磊
关键词:超硬材料氮化碳晶态
用微波等离子体CVD制备C_3N_4薄膜被引量:5
2000年
采用微波等离子体化学气相沉积法(MPCVD),使用高纯N2(99.999%)和CH4(99.9%)作反应气体,在多晶Pt(9.99%)基片上沉积C3N4薄膜X射线能潜(EDX)分析结果表明N/C原子比为1.0~1.4;接近C3N4的化学比;X射线衍射谱(XRD)说明薄膜生要由β-和α-C3N4组成;X射线光电子谱(XPS)、傅立叶变换红外谱(FT-IR)和喇曼(Raman)谱说明在C3N4薄膜中存在C-N键.
张永平顾有松常香荣田中卓时东霞张秀芳袁磊
关键词:微波等离子体化学气相沉积
微波等离子体化学气相沉积法制备C_3N_4薄膜的研究被引量:2
2000年
本文采用微波等离子体化学气相沉积法(MPCVD),高纯N2(99.999%)和CH4(99.9%)作反应气体,在多晶Pt(99.99%)基片上沉积C3N4薄膜。X-射线能谱(EDX)分析结果表明N/C原子比为1.0~1.4,接近C3N4的化学比;X射线衍射谱说明薄膜主要由β和α-C3N4组成;FT-IR谱和Raman谱支持C-N键的存在。
张永平顾有松常香荣田中卓时东霞张秀芳袁磊
关键词:微波等离子体化学气相沉积
共1页<1>
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