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陈建芳

作品数：10 被引量：10H指数：2
供职机构：中国科学院上海光学精密机械研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信核科学技术机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇专利
  • 3篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇机械工程
  • 1篇核科学技术

主题

  • 7篇激光
  • 4篇易加工
  • 4篇双频激光
  • 4篇分光
  • 4篇分光镜
  • 4篇干涉仪
  • 3篇电子激光器
  • 3篇虚火花放电
  • 3篇自由电子
  • 3篇自由电子激光
  • 3篇自由电子激光...
  • 3篇激光器
  • 2篇电信号
  • 2篇散射
  • 2篇散射光
  • 2篇探测器
  • 2篇偏振
  • 2篇小型化
  • 2篇脉冲形成线
  • 2篇控制系统

机构

  • 10篇中国科学院上...

作者

  • 10篇陈建芳
  • 4篇程兆谷
  • 4篇黄惠杰
  • 3篇王明常
  • 2篇敖计祥
  • 2篇池峰
  • 2篇许永锋
  • 2篇王毅强
  • 2篇程亚
  • 1篇杨斥
  • 1篇王之江
  • 1篇黄羽
  • 1篇黄羽
  • 1篇张立芬

传媒

  • 1篇中国激光
  • 1篇激光技术
  • 1篇强激光与粒子...

年份

  • 1篇2014
  • 2篇2013
  • 2篇2011
  • 1篇2010
  • 1篇1999
  • 2篇1998
  • 1篇1997
共 10 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
六轴4细分干涉仪
一种六轴4细分干涉仪，特点在于其构成包括沿偏振正交双频激光入射方向依次为六轴分光系统和干涉模块。所述的六轴分光系统由5个45°平面分光镜和4个45°全反镜组成。本发明具有元件易加工、光路调节方便、非线性误差小和各路光束温...
陈建芳程兆谷程亚黄惠杰池峰
自由电子激光器的一些改进方案被引量：1
1999年
自由电子激光器（ＦＥＬ）能否充分发挥其优异特性而走向实用，最终将取决于器件能否小型化。作者对现有喇曼自由电子激光器的控制系统及加速器部分进行了改进，使其体积大为减小，并对小型化ＦＥＬ的设想进行了总体布局。
陈建芳王明常
关键词：控制系统MARX发生器小型化自由电子激光器
六轴4细分干涉仪
一种六轴4细分干涉仪，特点在于其构成包括沿偏振正交双频激光入射方向依次为六轴分光系统和干涉模块。所述的六轴分光系统由5个45°平面分光镜和4个45°全反镜组成。本发明具有元件易加工、光路调节方便、非线性误差小和各路光束温...
陈建芳程兆谷程亚黄惠杰池峰
文献传递
五轴平镜干涉仪
一种五轴平镜干涉仪，构成包括沿偏振正交双频激光入射方向依次为五轴分光系统和干涉模块。所述的五轴分光系统由4个45<Sup>o</Sup>平面分光镜、3个45<Sup>o</Sup>全反镜和1个光程补偿全透镜组成。本发明具...
程兆谷陈建芳程亚黄惠杰池峰
文献传递
自由电子激光器虚火花放电高压电源的改进被引量：2
1997年
提出了对虚火花放电高压电源进行改进的方案。给出了实验装置，并从理论上分析了它的可行性。由此可大大减小传统的拉曼自由电子激光器的外形尺寸。
陈建芳王明常张立芬黄羽陆宾
关键词：自由电子激光器脉冲形成线激光器
FEL虚火花放电高压电源及控制系统的研究与改进
该论文对自由电子激光器进行了小型化总体分析后,又围绕这个课题对以下两部分内容进行了细致的研究:首先,对虚火花放电高压电源进行研究,并提出了改进方案.虚火花整个放电过程的持续时间约为1μs.于是由Blumlein脉冲线输出...
陈建芳
关键词：自由电子激光器小型化脉冲形成线虚火花放电控制系统
五轴差分干涉仪
一种五轴差分干涉仪，构成包括沿偏振正交双频激光入射方向依次为五轴分光系统和差分干涉模块。所述的五轴分光系统由4个45°平面分光镜和3个45°全反镜组成。本发明具有元件易加工、光路调节方便、非线性误差小和各路光束温漂一致等...
陈建芳程兆谷程亚黄惠杰池峰
文献传递
300kV的虚火花放电实验被引量：7
1998年
介绍了用脉冲线加速器作驱动电源产生高压虚火花放电的实验。脉冲线加速器由十级马克斯发生器和改装的脉冲形成线构成，虚火花放电室中注入低气压氮气，在３００ｋＶ的放电电压下获得药１０ｋＡ的高亮度电子束。
黄羽王明常陆宾冯诚士陈建芳杨斥王之江
关键词：虚火花放电高亮度电子束
具有缺陷分类能力的硅片表面缺陷检测仪及缺陷分类方法
一种具有缺陷分类能力的硅片表面缺陷检测仪及缺陷分类方法，采用一束激光从倾斜方向聚焦照射置于高稳定硅片工作平台上的待测硅片的平面表面，由硅片表面缺陷所产生的散射光分别在沿接近硅片表面法线的方向和接近平行硅片表面的方向被两个...
陈建芳程兆谷王毅强许永锋敖计祥黄惠杰
文献传递
具有缺陷分类能力的硅片表面缺陷检测仪及缺陷分类方法
一种具有缺陷分类能力的硅片表面缺陷检测仪及缺陷分类方法，采用一束激光从倾斜方向聚焦照射置于高稳定硅片工作平台上的待测硅片的平面表面，由硅片表面缺陷所产生的散射光分别在沿接近硅片表面法线的方向和接近平行硅片表面的方向被两个...
陈建芳程兆谷王毅强许永锋敖计祥黄惠杰
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