您的位置: 专家智库 > >

于凌宇

作品数:42 被引量:74H指数:5
供职机构:信息产业部更多>>
相关领域:电子电信电气工程经济管理自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 38篇中文期刊文章

领域

  • 15篇电子电信
  • 12篇电气工程
  • 9篇经济管理
  • 2篇自动化与计算...
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇化学工程

主题

  • 9篇电容
  • 9篇电容器
  • 7篇片式
  • 6篇元器件
  • 5篇电路
  • 4篇电子元
  • 4篇片式元器件
  • 3篇电容器技术
  • 3篇电子产业
  • 3篇元件
  • 3篇片式电容器
  • 3篇子产
  • 3篇集成电路
  • 2篇电磁
  • 2篇电化学
  • 2篇电解电容器
  • 2篇电路设计
  • 2篇电源
  • 2篇电子器件
  • 2篇电子元件

机构

  • 33篇信息产业部
  • 4篇国际电气与电...
  • 1篇安阳钢铁集团...
  • 1篇中华人民共和...
  • 1篇滑县科学技术...
  • 1篇中国世界贸易...

作者

  • 38篇于凌宇
  • 11篇冯玉萍
  • 1篇于杰栋
  • 1篇冯玉梅
  • 1篇牛红军

传媒

  • 10篇世界产品与技...
  • 6篇电子质量
  • 5篇今日电子
  • 3篇世界电子元器...
  • 2篇电子信息(印...
  • 1篇传感器世界
  • 1篇管理信息系统
  • 1篇计算机与网络
  • 1篇无线电工程
  • 1篇电子工艺技术
  • 1篇电力电容器
  • 1篇中国计算机用...
  • 1篇电子元件与材...
  • 1篇新材料产业
  • 1篇生活用纸
  • 1篇电源世界
  • 1篇电子产品与技...

年份

  • 1篇2004
  • 5篇2003
  • 10篇2002
  • 7篇2001
  • 13篇2000
  • 1篇1999
  • 1篇1998
42 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
世界片式电容器发展动态与2000年展望
2000年
于凌宇
关键词:片式电容器电子工业
电子封装最新工艺技术
2001年
于凌宇冯玉萍
关键词:电子封装工艺技术电子器件CSP封装
数字电路电磁干扰机理与抑制对策
2001年
当今时代,数字化高科技正推动电子信息产业飞速发展,而如何有效地控制数字电路的电磁干扰,从而大大提高数字化电子整机的技术性能和可靠性水平,已成为业界关注的重大问题。该文扼要分析了产业电磁干扰的因素,并着重探讨了克服电磁干扰的对策。
于凌宇
关键词:数字电路电磁干扰电路设计抑制对策
纳米技术精彩纷呈
2001年
近年来,世界纳米技术研究领域热气腾腾,硕果累累,一系列新颖的纳米元器件脱颖而出,十分引人瞩目。 所谓纳米技术,就是研究纳米尺度——0.1~100纳米这种微观范围内物质所具有的特异现象和特异功能,并且在这个基础上制造新材料、研究新工艺、生产新器件的方法和手段。纳米技术作为一门新兴的综合性边缘学科,将为21世纪的信息科学、生命科学、分子生物学、
于凌宇
关键词:电路设计纳米材料
导电聚合物新材料性能分析与应用展望
2004年
该文回顾了导电聚合物新材料的发展.论述了其分类和广泛用途,探讨了有机半导体的光电特性.研究了有机发光器件的结构、工作机理、技术性能及应用.并重点分析了有机彩色显示器的结构、原理及发展前景。
冯玉萍于凌宇
关键词:导电聚合物有机发光器件
氮化镓器件技术与应用展望被引量:3
2003年
本文简介了GaN器件的优异性能,不足之处及发展方向,重点探讨了其广泛用途,并对全球 GaN市场的现状及未来进行了分析和预测。
于凌宇
关键词:氮化镓器件衬底材料击穿场强导热性能
国际高能新电源电化学电容器技术应用动态
2002年
本文回顾了世界电化学电容器的发展历程,探讨了电化学电容器的储能机理与技术特性,研究分析了影响其性能的四大关键要素,并展望了其市场发展前景。
冯玉萍于凌宇
关键词:电化学电容器技术性能
国际国内片元器件技术市场走势被引量:1
2000年
于凌宇
关键词:片式元器件SMC/SMD
声表面波滤波器应用前景分析被引量:5
2003年
该文扼要分析了整个亚洲市场声表面波滤波器新的经济增长点,深入探讨了中国内地、台湾及香港地区该类产品近年来的生产、应用状况和2002年的市场趋势,回顾和预测了日本该类产品的研发、应用、价格及市场需求态势。
于凌宇冯玉萍
关键词:声表面波滤波器
IC测试新技术新标准发展动向
2001年
一、降低测试成本提高测试速度势在必行 任何一种电子产品都离不开体积小、功能强的芯片,正是芯片推动着IC飞速发展,同时,也推动着IC电子设计自动化和测试技术的发展,但是测试不可避免的地要滞后于IC的开发。 系统级芯片(或系统集成芯片)测试是一个费时间的过程。要完成测试,要降低测试成本,需要生成数千测试图形和矢量,还要达到足够高的故障覆盖率才行。随着测试链从芯片级延伸到板级、系统级、最后到现场级测试。
于凌宇冯玉萍
关键词:集成电路电路测试技术标准
共4页<1234>
聚类工具0