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刘锐

作品数:2 被引量:3H指数:1
供职机构:中南大学材料科学与工程学院更多>>
发文基金:国家军品配套科研项目更多>>
相关领域:金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇金属学及工艺

主题

  • 2篇退火
  • 1篇生长动力学
  • 1篇双辊
  • 1篇退火工艺
  • 1篇均匀化
  • 1篇均匀化退火
  • 1篇焊点
  • 1篇NI
  • 1篇AU
  • 1篇CU
  • 1篇IMC

机构

  • 2篇中南大学
  • 1篇江西理工大学

作者

  • 2篇彭健
  • 2篇王日初
  • 2篇刘锐
  • 2篇韦小凤
  • 1篇王檬

传媒

  • 1篇材料热处理学...
  • 1篇中南大学学报...

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2013
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
双辊甩带制备Au-20%Sn焊料及其均匀化退火工艺被引量:3
2015年
采用双辊甩带技术制备Au-20%Sn焊料薄带材,观察和分析快速凝固Au-20%Sn焊料薄带的显微组织以及熔融特性,并研究合金的均匀化退火工艺。研究结果表明:双辊甩带合金由ζ′(An5Sn)和δ(Au Sn)两相组成,显微组织细小。合金的熔化温度接近共晶点,满足焊料的熔点要求。均匀化退火过程中,δ(Au Sn)相逐渐长大,合金的硬度降低。根据薄带的组织和硬度,确定均匀化退火工艺为260℃下退火4 h。
刘锐王日初韦小凤彭健
关键词:均匀化退火
老化退火中Cu/AuSn20/Ni焊点的组织演变
2013年
研究Cu/AuSn20/Ni焊点在120、160和200℃下老化退火时金属间化合物(IMC)层的组织形貌、生长动力学以及焊点剪切性能。结果表明:在老化退火过程中,焊点Cu/AuSn20上界面形成AuCu和Au(Cu,Sn)复合IMC层,Ni/AuSn20下界面形成(Ni,Au,Cu)3Sn2四元IMC层;IMC层厚度随着退火时间延长而逐渐增大,其生长动力学分析表明AuCu层和Au(Cu,Sn)层的生长机制为体积扩散,而(Ni,Au,Cu)3Sn2层的生长机制为反应扩散;IMC层的长大速率随温度升高而增大;焊点的室温剪切强度随AuCu和Au(Cu,Sn)层厚度增大而大幅降低,剪切断裂发生在Cu/AuSn20界面。
彭健王日初韦小凤刘锐王檬
关键词:生长动力学
共1页<1>
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