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张红娣

作品数:2 被引量:1H指数:1
供职机构:中国科学院物理研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇理学
  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇射线衍射
  • 2篇X射线衍射
  • 1篇单晶
  • 1篇单晶薄膜
  • 1篇微结构
  • 1篇物理性能
  • 1篇锰氧化物
  • 1篇钙钛矿
  • 1篇钙钛矿型
  • 1篇钙钛矿型锰氧...
  • 1篇薄膜微结构
  • 1篇CA
  • 1篇LA
  • 1篇残余应力
  • 1篇磁学
  • 1篇MNO

机构

  • 2篇中国科学院
  • 1篇香港大学

作者

  • 2篇张红娣
  • 1篇贾全杰
  • 1篇麦振洪
  • 1篇安玉凯
  • 1篇高炬
  • 1篇王勇
  • 1篇胡凤霞

传媒

  • 1篇物理学报

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
La_(0.8)Ca_(0.2)MnO_3/SrTiO_3薄膜厚度对其结构及磁学性能的影响被引量:1
2007年
采用多种X射线衍射技术和磁电阻测量技术研究了不同厚度的La0.8Ca0.2MnO3/SrTiO3(LCMO/STO)薄膜的应变状态及其对磁电阻性能的影响.结果表明,在STO(001)单晶衬底上生长的LCMO薄膜沿[00l]取向生长·LCMO薄膜具有伪立方钙钛矿结构,随着薄膜厚度的增加,面内晶格参数增加,垂直于面内的晶格参数减小,晶格参数a和b相近,略小于c·LCMO薄膜内处于应变状态,由于薄膜与衬底的晶格失配,LCMO面内受到拉应力,垂直于面内受到了压应力·LCMO薄膜在qz方向存在轻微的镶嵌结构,并且在qz方向LCMO薄膜与STO衬底存在约0.1°的取向差.薄膜的磁电阻与薄膜的应变状态密切相关,随着薄膜厚度的增加,磁电阻减小.
张红娣安玉凯麦振洪高炬胡凤霞王勇贾全杰
关键词:X射线衍射物理性能
钙钛矿型锰氧化物薄膜微结构的研究
本论文的研究内容共分三部分。主要研究不同的锰氧化物薄膜的厚度对其微结构和应变状态的影响,为优化材料生长条件和提高材料物理性能及应用提供科学依据。   1)利用多种X射线衍射技术、扫描电镜和原子力显微镜分析了La0.8C...
张红娣
关键词:X射线衍射钙钛矿型单晶薄膜微结构残余应力
共1页<1>
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