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李敏

作品数:7 被引量:11H指数:2
供职机构:中国科学院自动化研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:机械工程电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 3篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇机械工程
  • 2篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 3篇PI参数
  • 2篇原子力显微镜
  • 2篇扫描式
  • 2篇价格函数
  • 2篇被控
  • 2篇被控系统
  • 2篇比例积分
  • 2篇AFM
  • 2篇DSP
  • 1篇寻优
  • 1篇优化算法
  • 1篇正弦
  • 1篇正弦波
  • 1篇扫描器
  • 1篇扫描探针显微...
  • 1篇上升时间
  • 1篇数据可视化
  • 1篇数字图像
  • 1篇数字图像处理
  • 1篇图像

机构

  • 7篇中国科学院
  • 1篇中国科学院研...
  • 1篇中国科学院自...

作者

  • 7篇李敏
  • 6篇韩立
  • 4篇林云生
  • 2篇左燕生
  • 2篇方光荣
  • 1篇殷伯华
  • 1篇王丽娜
  • 1篇陈代谢

传媒

  • 1篇电子显微学报
  • 1篇微细加工技术
  • 1篇纳米技术与精...

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 4篇2007
  • 1篇2006
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
SPM数据可视化技术研究
2006年
介绍了一套基于数字图像处理技术和OpenGL技术的数据可视化方案。该方案可以用于各种类型的SPM仪器的二维和三维成像处理。针对SPM应用首次提出了“高度剔除”去噪算法以及“水平线最小二乘调整”高度再调整算法,实验表明,这些算法对于增强高度数据成像对比度以及降低从高度数据到图像映射造成的细节损失可以起到有效的作用。详细地讨论了三维成像中的关键问题———顶点颜色的计算,并通过OpenGL的纹理映射技术获得了逼真的三维形貌图。另外,该套可视化方案数据流明确,可视化效果好,可以为其它类型的数据可视化提供有益的参考。
李敏方光荣韩立左燕生林云生
关键词:SPM数据可视化数字图像处理计算机图形学OPENGL
扫描式PI参数自寻优控制器
一种扫描式PI参数自寻优控制器,首先,采样周期设定子模块给被控对象一个阶跃信号,测出系统的阶跃响应曲线。然后根据阶跃响应曲线自动寻找开环稳定时间T<Sub>d</Sub>,再计算出采样周期T<Sub>s</Sub>;PI...
李敏韩立
文献传递
扫描式PI参数自寻优控制器
一种扫描式PI参数自寻优控制器,PI参数自寻优模块进行PI参数寻优过程如下:首先,采样周期设定子模块通过数模转换器给被控对象一个阶跃信号,测出系统的阶跃响应曲线。然后根据阶跃响应曲线自动寻找T<Sub>d</Sub>,再...
李敏韩立
文献传递
基于DSP的AFM高速自动控制系统设计
以原子力显微镜(AFM,Atomic Force Microscope)和扫描隧道显微镜(STM,Scanning Tunneling Microscope)为代表的扫描探针显微镜(SPM,Scanning ProbeM...
李敏
关键词:DSP原子力显微镜PID控制参数自整定扫描探针显微镜
文献传递
基于DSP的高速原子力显微镜系统被引量:7
2007年
传统的以PC机为控制核心的AFM(atomic force microscope)越来越无法满足快速成像的要求,具有先进控制系统的高速AFM正成为国内外的一个研究热点。本文介绍了一种以DSP(digital signal processor)为控制核心的AFM系统。在该系统中,自动进针/退针、扫描电压的产生、A/D采样、D/A输出以及数字闭环反馈控制等任务均在DSP控制下完成;在分辨率为512×512时,可以获得行频55 Hz的扫描速度。实验表明,即便在这样高速扫描的情况下,该系统仍具有良好的成像性能。
李敏韩立林云生左燕生方光荣
关键词:AFMDSP
一种压电扫描器高速扫描方式
一种压电扫描器高速扫描方式,对压电扫描器快轴的驱动采用高速,无畸变点的正弦波。在采样系统中,采用由位移确定采样点的方式,在快轴的运动方向上设置位移传感器,用于精确计量扫描器实际走过的距离。可以实现在不改变现有压电扫描器基...
王丽娜韩立李敏林云生
文献传递
PI参数自动寻优控制器设计被引量:3
2011年
针对传统比例-积分-微分(PID)控制器参数整定困难的问题,提出一种新型比例-积分(PI)参数自动寻优控制器(SPO).先确定PI参数的取值范围,按一定取值间距建立PI参数的查找表;针对反馈跟踪控制的3个性能指标,包括上升时间、超调量和稳态误差,分别根据查找表的参数进行轮询式测试,建立3个独立的性能评价数据库;根据满意度函数映射和自动规则产生算法,将3个评价数据库分别用函数表示;为了综合考虑3个性能指标,使系统控制的整体性能达到最佳,引入了价格函数;最后通过基于层截面颗粒度分析的图形算法,寻找出最优的PI参数.在原子力显微镜(AFM)上的实验证明,本控制器能自动寻找出适合当前系统状态的最优PI参数,可避免由于人为经验因素对扫描成像造成的影响,从而取得更好的扫描图像.
陈代谢殷伯华林云生韩立李敏
关键词:比例积分参数寻优优化算法原子力显微镜控制器
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