葛鹏岳
- 作品数：7 被引量：8H指数：2
- 供职机构：中国人民解放军军械工程学院军械技术研究所更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电气工程更多>>
- 基于改进FDR算法的SOC测试数据压缩方法
- 2010年
- 针对FDR编码算法对1编码效率低的弊端,提出了能同时对0和1编码的改进FDR编码算法,采用基于有限状态机的解码电路设计解码器,利用Golomb编码、FDR编码和改进FDR编码算法,分别对相同与不同长度的测试集进行压缩。实验结果表明,改进FDR编码算法要优于Golomb编码与FDR编码,且对SOC测试数据的压缩是有效的。
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- 关键词：SOC测试数据压缩有限状态机
- 基于隐半马尔可夫模型的动态多故障诊断方法研究被引量：3
- 2010年
- 针对现有故障诊断方法无法适应复杂装备多故障诊断要求的技术问题,提出了基于隐半马尔可夫模型(HSMM)的动态多故障模型,并给出动态多故障诊断问题的形式化描述;在隐半马尔可夫公式推导过程中对推导方法进行了改进,使得公式推导过程大大简化;通过将目标函数转化为若干个独立的子问题,并分别用基于二进制的粒子群算法进行求解,有效的实现了动态多故障诊断;该方法同现有方法相比,在不影响检测率和隔离率的前提下,计算简单,运行时间短,优化效果明显。
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- 关键词：粒子群
- SoC测试性设计和验证方法关键技术研究被引量：5
- 2010年
- 超深亚微米技术(VDSM)和基于芯核的设计给芯片系统(System-on-a-Chip,SoC)测试和验证带来了测试难、验证复杂等新问题。文章对SoC设计特点、可测试性设计分类以及SoC测试访问机制(TAM)进行了深入综述,并讨论了传统集成电路(ASIC)验证方法的特点和SoC验证面临的问题;重点讨论了模块级验证、断言和形式验证技术、Farm技术和覆盖率分析以及基于随机测试激励等几种提高SoC验证功能的技术。
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- 关键词：SOC可测试性
- 基于确定性测试图形的BIST构建方法
- 2011年
- 为降低内建自测试(Build-in Self Test,BIST)的测试功耗,提出了一种基于确定性测试图形的内建自测试构建方法:首先采用D算法生成测试所需的测试图形,然后使用粒子群算法对其进行优化,使内建自测试的功耗大幅度降低;文中最后以ISCAS’85Benchmark中的部分电路作为实验对象,并给出了测试图形优化前后的功耗数;实验结果证明该方法能够有效降低内建自测试的测试功耗,并且具有方法简单、无需额外硬件开销的特点。
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- 关键词：内建自测试粒子群优化算法
- 基于改进二进制粒子群算法的数字电路测试生成方法
- 为减少数字电路测试图形生成时间,提出了一种基于改进二进制粒子群优化算法(BPSO,Binary Particle Swarm Optimization)的模拟测试生成方法,该方法与传统数字电路测试生算法如D算法不同,它在...
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- 关键词：数字电路
- 基于粒子群算法的确定性测试图形优化方法
- 为降低内建自测试测试功耗，提出一种基于粒子群优化算法的确定性测试图形优化方法；首先，引用CMOS电路动态功耗相关模型对测试图形海明距离与测试功耗之间的关系进行了研究；然后用哈密尔顿图求解最小海明距离测试图形，并证明该问题...
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- 关键词：内建自测试粒子群优化算法海明距离
- 基于改进二进制粒子群算法的LFSR种子优化方法研究
- 2011年
- 为降低BIST测试功耗,采用一种改进的二进制粒子群算法对LFSR种子进行优选,使测试图形的长度得到减小进而降低了测试功耗;以ISCAS’85 benchmark电路作为测试对象,同时用粒子群算法和模拟退火算法进行实验,通过对比结果证明了该方法简单有效,可以在不增加硬件开销的情况下大幅度降低BIST测试功耗。
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- 关键词：LFSR种子
