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文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇堆叠
  • 1篇堆叠封装
  • 1篇应力
  • 1篇应力分布
  • 1篇有限元
  • 1篇有限元模拟
  • 1篇有限元模型
  • 1篇球栅阵列
  • 1篇温度分布
  • 1篇封装
  • 1篇封装工艺
  • 1篇封装结构
  • 1篇高密度封装
  • 1篇3D封装
  • 1篇BGA器件

机构

  • 2篇华中科技大学
  • 2篇中兴通讯股份...

作者

  • 2篇吴丰顺
  • 2篇付红志
  • 2篇夏卫生
  • 2篇方文磊
  • 1篇王曳舟
  • 1篇陈一豪
  • 1篇刘哲
  • 1篇方宣伟
  • 1篇邓仕阳
  • 1篇刘俐
  • 1篇杨珊

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇电子工艺技术

年份

  • 2篇2012
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
堆叠封装技术进展被引量:4
2012年
目前电子产品正朝着高集成化、多功能及微型化方向不断发展。堆叠封装(PoP)作为一种新型3D封装技术,在兼容现有的标准表面贴装技术(SMT)的基础上能够实现不同集成电路在垂直方向上堆叠,从而能够提升封装密度,节省PCB板组装空间,缩短互连线路长度。该技术已从初期的低密度双层堆叠发展至当前的高密度多层堆叠,并在互连方式与塑封形式等封装结构及工艺上不断改进,以适应高性能电子产品的发展需求。通过对PoP上层与下层封装体结构及其封装工艺的近期研究成果进行综述,对比分析它们的各自特点与优势,并展望PoP未来发展趋势。
邓仕阳刘俐杨珊王曳舟方宣伟夏卫生吴丰顺方文磊付红志
关键词:堆叠封装3D封装高密度封装封装结构封装工艺
BGA器件Z×2101回流过程有限元模拟被引量:1
2012年
采用间接耦合的方法对BGA(Ball Grid Array)器件ZX2101的回流过程进行有限元模拟,得出回流结束后BGA器件整体、PCB以及芯片基板的温度分布,同时仿真分析了焊球阵列部分的温度分布随时间变化的情况,据此得到回流结束后PCB与芯片基板的变形。在设定的温度边界条件下,得到了四点回流曲线,模拟结果与实测结果相吻合。
陈一豪刘哲付红志方文磊夏卫生吴丰顺
关键词:球栅阵列有限元模型温度分布应力分布
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