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周中伟

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：中科院成都信息技术股份有限公司更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

领域

  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 4篇图像
  • 2篇约束信息
  • 2篇梯度图像
  • 2篇凸包
  • 2篇图像测量
  • 2篇屏幕
  • 2篇屏幕图像
  • 2篇先验
  • 2篇线缺陷
  • 2篇像素
  • 2篇像素级
  • 2篇抠图
  • 2篇抠图方法
  • 2篇灰度
  • 2篇灰度图
  • 2篇灰度图像
  • 2篇角点
  • 2篇LCD屏
  • 2篇LCD屏幕

机构

  • 4篇中科院成都信...

作者

  • 4篇陈斌
  • 4篇赵雪专
  • 4篇张衡
  • 4篇李科
  • 4篇钱基德
  • 4篇周中伟
  • 4篇吴强
  • 2篇吴珊
  • 2篇陈刚
  • 2篇裴利沈

年份

  • 2篇2019
  • 2篇2016
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
一种无监督抠图方法及装置
本发明公开了一种无监督抠图方法及装置，通过对待抠图图像进行超像素分割，将待抠图图像分割成多个超像素区域，以及基于检测到的待抠图图像的角点集合中角点的位置，确定角点集合对应的凸包区域，进而再通过对凸包区域向外扩展，确定出先...
赵雪专陈斌裴利沈勾承甫钱基德赵森祥陈刚李科张衡周中伟吴强
文献传递
一种LCD屏幕亚像素级缺陷检测方法
本发明属于机器视觉图像测量与屏幕检测技术领域，具体涉及一种基于计算机视觉的LCD屏幕亚像素级缺陷检测方法。本方法对屏幕图像预处理获取二值化参数u<Sub>0</Sub>，通过自学习获取LCD单元的垂直VD、水平HD间距参...
钱基德陈斌吴珊赵雪专李科张衡周中伟吴强
一种LCD屏幕亚像素级缺陷检测方法
本发明属于机器视觉图像测量与屏幕检测技术领域，具体涉及一种基于计算机视觉的LCD屏幕亚像素级缺陷检测方法。本方法对屏幕图像预处理获取二值化参数u<Sub>0</Sub>，通过自学习获取LCD单元的垂直VD、水平HD间距参...
钱基德陈斌吴珊赵雪专李科张衡周中伟吴强
文献传递
一种无监督抠图方法及装置
本发明公开了一种无监督抠图方法及装置，通过对待抠图图像进行超像素分割，将待抠图图像分割成多个超像素区域，以及基于检测到的待抠图图像的角点集合中角点的位置，确定角点集合对应的凸包区域，进而再通过对凸包区域向外扩展，确定出先...
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