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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇理学

主题

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机构

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作者

  • 3篇吴东
  • 3篇徐耀
  • 3篇孙菁华
  • 3篇贾红宝
  • 2篇吕海兵
  • 2篇袁晓东
  • 1篇晏良宏
  • 1篇胡文杰
  • 1篇丁瑞敏

传媒

  • 2篇光学学报
  • 1篇材料科学与工...

年份

  • 2篇2013
  • 1篇2012
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
溶胶-凝胶法制备用于氟磷酸盐玻璃的氟化镁减反射膜被引量:4
2013年
以甲醇镁与氢氟酸为原料,用溶胶-凝胶法,在惰性气氛和常温常压条件下制备了稳定的MgF2溶胶。利用透射电子显微镜观察溶胶颗粒的形貌与尺寸,结果显示溶胶颗粒是由10nm左右的晶粒聚集而成。X射线衍射分析表明,凝胶粉末和薄膜为典型四方晶相结构的MgF2,晶粒尺寸为8.9nm。通过提拉法在精密加工的氟磷酸盐玻璃基底上制备MgF2减反射薄膜。采用原子力显微镜观察薄膜的表面形貌,膜层表面较平整,其均方根粗糙度最低为1.6nm。薄膜的紫外可见光谱测试表明膜层对氟磷酸盐玻璃基底具有较好光学减反效果,在351nm波长处透射率最高可增加6.49%,大大提高了氟磷酸盐玻璃的透射率。使用351nm脉冲(脉宽8ns)激光测试薄膜的激光损伤阈值,薄膜和基底的损伤阈值都高于35J.cm-2。
胡文杰贾红宝孙菁华丁瑞敏吴东徐耀
关键词:氟化镁溶胶-凝胶氟磷酸盐玻璃
利用透射光谱与X射线反射谱精确测量溶胶-凝胶TiO_2薄膜厚度和光学常数被引量:6
2012年
在洁净K9玻璃基底上沉积TiO2薄膜,将透射光谱和X射线反射光谱相结合分析获得膜层的厚度和光学常数。X射线反射谱拟合能精确得到膜层的厚度、电子密度及表面和界面粗糙度,其中膜层厚度的数值为透射光谱的分析提供了重要参考。基于Forouhi-Bloomer色散模型拟合膜层透射光谱,得到薄膜折射率和消光系数,理论曲线和实验曲线吻合良好。对于同一样品,两种光谱拟合分析得到的厚度数值非常接近,差值最大为4.9nm,说明两种方法的结合能够提高光学分析结果的可靠性。
贾红宝孙菁华徐耀吴东吕海兵晏良宏袁晓东
关键词:光学常数透射光谱
X射线反射法和椭圆偏振法结合测量热处理溶胶-凝胶ZrO2薄膜的结构和光学参数
2013年
采用溶胶-凝胶法在硅片基底上制备ZrO2薄膜,在150℃~750℃范围内不同温度下进行热处理,研究了热处理对膜层结构和光学性能的影响。X射线反射用于膜层厚度和界面粗糙度分析,结果表明热处理温度由150℃升至750℃,膜层厚度由常温状态下的112.3nm减小到34.0nm,表面和界面粗糙度均小于2nm。以X射线反射法测得的膜层厚度为初始值,对椭圆偏振仪的测量结果进行拟合,得到不同温度的膜层折射率,结果表明热处理温度为550℃时膜层折射率达到最大值。X射线反射作为直接的膜层厚度测试手段,所得结果为准确分析椭偏光谱提供了参考。
贾红宝孙菁华徐耀吴东吕海兵袁晓东
关键词:溶胶-凝胶二氧化锆
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