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复旦大学微电子学院专用集成电路与系统国家重点实验室

作品数:24 被引量:30H指数:3
相关作者:刘文军更多>>
相关机构:上海大学机电工程与自动化学院上海理工大学光电信息与计算机工程学院上海市现代光学系统重点实验室上海理工大学光电信息与计算机工程学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点实验室开放基金上海市自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学一般工业技术机械工程更多>>

文献类型

  • 21篇期刊文章
  • 3篇会议论文

领域

  • 16篇电子电信
  • 6篇理学
  • 3篇一般工业技术
  • 2篇机械工程
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电气工程

主题

  • 4篇晶体管
  • 3篇原子层沉积
  • 3篇铁电
  • 3篇薄膜晶体
  • 3篇薄膜晶体管
  • 3篇存储器
  • 2篇导电
  • 2篇电路
  • 2篇电学
  • 2篇叠层
  • 2篇铁电薄膜
  • 2篇可靠性
  • 2篇集成电路
  • 2篇光电
  • 2篇光刻
  • 2篇光刻机
  • 2篇感器
  • 2篇
  • 2篇
  • 2篇传感

机构

  • 24篇复旦大学
  • 2篇上海大学
  • 1篇上海理工大学
  • 1篇上海交通大学
  • 1篇淮北师范大学
  • 1篇法国国家科研...
  • 1篇山东华翼微电...
  • 1篇上海微电子装...

作者

  • 3篇丁士进
  • 1篇曾祥宇
  • 1篇陈光化
  • 1篇范仲勇
  • 1篇曾韡
  • 1篇叶凡
  • 1篇朱国栋
  • 1篇张金锋
  • 1篇牟福生
  • 1篇周嘉
  • 1篇张永兴
  • 1篇吴小蒙
  • 1篇陈笋
  • 1篇曾智
  • 1篇张远
  • 1篇陈勇臻
  • 1篇王永平
  • 1篇刘文军
  • 1篇崔兴美
  • 1篇蒋玉龙

传媒

  • 3篇物理学报
  • 2篇半导体技术
  • 2篇激光与光电子...
  • 2篇传感器与微系...
  • 1篇科学通报
  • 1篇复旦学报(自...
  • 1篇红外与毫米波...
  • 1篇微电子学与计...
  • 1篇功能材料
  • 1篇物理化学学报
  • 1篇功能材料与器...
  • 1篇计测技术
  • 1篇长春工业大学...
  • 1篇淮北师范大学...
  • 1篇湘潭大学学报...
  • 1篇微纳电子与智...

年份

  • 5篇2022
  • 2篇2020
  • 4篇2019
  • 4篇2018
  • 5篇2017
  • 2篇2015
  • 1篇2013
  • 1篇2011
24 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
热退火对等离子体增强化学气相沉积SiCOH薄膜结构与性能的影响被引量:2
2015年
热退火是多孔低介电常数薄膜制备过程中的重要一环,对薄膜结构及性能具有重要影响.本文以四乙氧基硅烷和双戊烯为前驱体,采用等离子体增强化学气相沉积方法制备了SiCOH薄膜,对其进行了氮气氛围下的热退火处理,分析了热退火对薄膜结构与性能的影响,探究了退火过程中薄膜结构变化的可能的反应机理.傅里叶变换红外光谱和固体核磁共振谱结果表明,沉积薄膜是一种有机无机杂化薄膜.退火过程中,薄膜中的—CH2,—CH3等有机组分被分解除去,形成了以稳定的Si—O—Si等无机组分为骨架的多孔结构,并通过氮气吸附/脱附等温线测试得到了验证.在此期间,薄膜骨架微结构亦发生一系列调整,C=C,Si—C含量增加,Si、O、C等元素间发生进一步键合.C=C含量的提高,使得薄膜的消光系数和漏电流密度增大.实验证明,退火后薄膜具有低折射率、低介电常数特性,是一类具有优异的介电性能和力学性能的材料,作为芯片后端互连层间介质具有极大的应用潜力.
谭再上吴小蒙范仲勇丁士进
关键词:热退火等离子体增强化学气相沉积
单平面EWOD器件在化学发光检测中的可靠性研究
2015年
研究了单平面透明介质上的电润湿(Electrowetting on Dielectrics,EWOD)数字微流体器件在化学发光检测器中的两个可靠性问题.一是通过对介质层的研究,使用PVD制备300nm Ta_2O_5介质层使驱动电压降低至20.7V,在驱动电压26.9V下速度达到40mm/s;二是通过设置片上加热器解决了Teflon的失效问题,使用1W功率加热5min实现片上疏水角恢复至120°.集成嵌入式加热器的EWOD器件用于葡萄糖检测时,最高灵敏度达到0.12V/(μmol·L^(-1)),检测范围1~20 000μmol/L,最低检测限为1μmol/L.
章凯迪曾智曾祥宇陶国炜周嘉
关键词:可靠性
不同晶向BiFeO3薄膜的表征及导电性研究
2020年
采用脉冲激光沉积技术,在(110)和(100)两种晶向的钛酸锶(SrTiO3)衬底上,先后异质外延生长钌酸锶(SrRuO3)氧化物底电极和铁酸铋(BiFeO3),形成BiFeO3/SrRuO3/SrTiO3结构的铁电薄膜。用原子力显微镜、压电力显微镜和XRD对BiFeO3薄膜进行微观表征,分析其表面形貌、电畴结构和结晶程度。通过磁控溅射的方法生长Au上电极,测试两种晶向BiFeO3薄膜的电滞回线以及I-V特性曲线,通过对比发现(100)晶向的BiFeO3薄膜导电性更强;最后对I-V曲线进行拟合,综合分析证明不同晶向的铁酸铋薄膜导电性不同的主要原因是受膜内陷阱密度、结晶度和空间电荷限制导电机制的影响。
刘少清
关键词:脉冲激光沉积铁酸铋铁电导电机制
系统工程方法及其在先进半导体装备领域的应用被引量:2
2022年
系统工程方法在国内外以航空航天、国防科技和船舶工程等为代表的复杂设备系统的研发中发挥了重要作用。针对以光刻机为代表的先进半导体装备的研发,发展和提升以正向设计引领、以系统工程方法为指导的自主创新和设计制造一体化能力显得尤其重要。从系统工程的起源着手,介绍了系统工程的常见方法,并以半导体装备领域的应用为背景重点介绍了系统工程的工具链和基于模型的系统工程(MBSE)的部分关键技术。最后对系统工程方法,特别是对MBSE方法在我国半导体装备行业中的应用前景作了展望。
殳峰许智磊何乐杨晓峰
关键词:信息物理系统
原子层淀积Si掺杂ZnO薄膜的光电性能研究
2022年
文章对原子层淀积(ALD)Si掺杂ZnO(SZO)薄膜的结构、电学和光学性能进行研究.通过生长ZnO和SiO2叠层的方法得到不同硅(Si)掺杂浓度的SZO薄膜,XRD测量结果表明,SZO薄膜为多晶结构,AFM测量结果表明,掺杂后样品的表面粗糙度变小.随着Si掺杂浓度的提高,SZO薄膜的载流子浓度先增大后减小,电阻率不断增大. SZO薄膜的可见光透射率在85%之上,光致发光谱表面SZO薄膜的发光以紫外光为主. ALD生长的SZO薄膜可以通过调整Si浓度对其光电性能进行精确调控,在透明导电薄膜、薄膜晶体管、紫外发光和探测器件方面有巨大的应用潜力.
张远张永兴张永兴张金锋
关键词:ZNO薄膜原子层淀积透光率光致发光
高性能栅压自举开关的设计被引量:1
2017年
对模数转换器中的传统开关电路的导通电阻进行了详细的理论分析,提出了一种互补型栅压自举开关电路。该电路结构相比于传统开关,通过少量的功耗代价换取了更优的频域性能,在不同工艺角下具有更好的鲁棒性,适用于先进工艺下的低电压工作环境。互补型栅压自举开关电路采用28 nm工艺设计,在1 V的电源电压下,对800 f F的负载电容进行速率为800 MS/s的采样,在低频输入下(181.25 MHz)实现的无杂散动态范围(SFDR)为89 d B,四倍奈奎斯特输入频率下(1 556 MHz)实现的SFDR为65 d B,开关电路面积为80μm×20μm。
穆敏宏叶凡陈勇臻
关键词:导通电阻
两路信号控制的液滴单向运输数字微流控芯片被引量:1
2019年
介质上的电润湿(EWOD)数字微流控芯片的设计中,随着电极数量的增加,需要更多的控制信号,引出导线的设计复杂程度将会显著增加。根据接触线理论,提出一种运输方向上非对称的电极设计,使液滴两侧的电极同时加电压时,施加在液滴两侧的电润湿力不平衡,液滴向指定方向驱动。该新型器件只需两个信号即可实现液滴长距离、大规模的单向运输。通过COMSOL仿真软件对器件在电压作用下液滴受力和运动情况进行了表征,并制作及测试芯片对其功能进行了验证。仿真和测试结果表明:通过两个驱动信号的重复交替,能够在一维路径上稳定地实现单向运输。
盛文洁王续博周嘉
原子层沉积ZnO/Cu/ZnO透明导电膜的电学、光学特性研究
获得更低电阻率和更高透过率的透明导电膜(TCO)一直是该领域科研人员努力和追求的目标,利用热蒸发和磁控溅射方法制备TCO薄膜的研究己经有很多,本文尝试利用原子层沉积(ALD)这种优良的镀膜方法,希望制备出高性能的ZnO/...
马宏平王韬卢红亮张卫
关键词:透明导电膜原子层沉积透过率
基于集成氮化硅微腔的光学传感芯片研究被引量:1
2018年
近年来随着传感器在生物探测领域的应用,提高传感器芯片的灵敏度成为研究的热点。利用氮化硅微腔灵敏度高、成本低、易于集成的优点,设计制造了1550 nm波长下二维、三维结构品质因子分别为1.6×104和4×103的悬空耦合传感器芯片,并详细研究了集成氮化硅微腔光学传感芯片在折射率测量方面的应用。
翟珊顾昌林冯吉军卢红亮
关键词:微环谐振腔氮化硅光学传感器
超薄氧化铝层的电场调制效应(英文)
2018年
研究了基于高k介质材料的阻变存储器的写入/擦除(SET/RESET)特性和物理机制.研究发现基于NbAlO材料的阻变存储器SET/RESET电压具有较大波动性,通过结构优化,在Al_2O_3/NbAlO/Al_2O_3纳米薄片堆垛结构器件中获得高度稳定性的可重复的阻变特性.基于电场调制效应,提出了一种统一的电阻开关模型去模拟阻变存储器的SET/RESET行为,并探讨了单层阻变薄膜的阻变存储器中由导电单元形成和湮灭的巨大随机性引起的阻变特性分布.当在NbAlO基阻变存储器中嵌入超薄Al_2O_3膜后,阻变存储器的SET/RESET电压稳定性将显著提升,其原因在于采用堆垛结构的阻变器件中各介质层中的电场重新分布并精确可控,因此导电细丝的导通/断裂通过电场调制作用稳定均匀地在发生在具有高电场的薄缓冲层介质层中.
徐大朋程佩红陈琳张卫
关键词:原子层沉积
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