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柴駪

作品数:5 被引量:7H指数:1
供职机构:华中科技大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家教育部博士点基金更多>>
相关领域:电子电信金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 4篇蠕变
  • 4篇无铅
  • 3篇倒装芯片
  • 3篇无铅焊
  • 3篇无铅焊料
  • 3篇芯片
  • 3篇焊料
  • 2篇电流
  • 2篇电流密度
  • 2篇电迁移
  • 2篇蠕变行为
  • 2篇蠕变性能
  • 2篇凸点
  • 2篇芯片凸点
  • 2篇大电流
  • 2篇大电流密度
  • 1篇倒装
  • 1篇低银
  • 1篇润湿
  • 1篇润湿性

机构

  • 5篇华中科技大学
  • 1篇武汉光电国家...

作者

  • 5篇柴駪
  • 4篇安兵
  • 3篇吴懿平
  • 1篇王强翔
  • 1篇吕卫文
  • 1篇张文斐
  • 1篇胡雅婷

传媒

  • 2篇电子工艺技术
  • 1篇中国科技论文
  • 1篇2013中国...

年份

  • 1篇2014
  • 3篇2013
  • 1篇2012
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
电流耦合场下的倒装芯片凸点蠕变性能
以倒装芯片为对象,设计研发了高精度的微焊点蠕变实验装置。研究了电流耦合下的力-热场中无铅互连焊点的蠕变规律与组织结构的演变。研究表明在加入大电流,达到电迁移门槛值的条件下,电流会减缓倒装芯片凸点的蠕变过程,凸点断裂主要受...
安兵柴駪吴懿平
关键词:倒装芯片蠕变电迁移
大电流密度下倒装芯片凸点的剪切蠕变性能被引量:1
2013年
以倒装芯片为对象,通过自行设计研发的试验装置,研究电-热-应力耦合场中无铅互连焊点的蠕变规律与组织结构演变。研究表明,在加入大电流,达到电迁移门槛值的条件下,电流会减缓倒装芯片凸点的蠕变过程,凸点断裂主要是受到金属间化合物界面形态控制,反映了与绝热蠕变样品的巨大差异。
柴駪安兵
关键词:倒装芯片电流密度蠕变电迁移界面化学
低银无铅焊料性能与可靠性研究进展被引量:4
2013年
概述了以SAC105、SAC0307为代表的低银无铅焊料在关键特性上与锡铅焊料(63Sn37Pb)以及高银无铅焊料(SAC305)的差异,对它们的组织成分、润湿性能、力学性能、抗跌落性能、温度循环和老化性能进行了比较分析。结果表明,低银无铅焊料与63Sn37Pb、SAC305的性能和可靠性近似,同时具有成本低、抗跌落性能高的优点,可望代替63Sn37Pb和SAC305。
王强翔胡雅婷柴駪安兵吴懿平
关键词:无铅焊料低银润湿性力学性能可靠性
无铅焊料的蠕变行为研究进展被引量:1
2012年
无铅焊料已经逐渐代替锡铅焊料广泛应用于电子产品连接技术。但其在环境中的物理和机械性能,尤其是蠕变性能却低于锡铅焊料合金,成为无铅焊料可靠性的主要问题。综述了近些年来无铅焊料蠕变性能的研究,包括蠕变机制、蠕变本构方程、焊点尺寸、无铅合金成分、金属间化合物以及微观组织结构对蠕变性能影响等主要研究热点,并对此领域的发展做出了展望。
张文斐安兵柴駪吕卫文吴懿平
关键词:无铅焊料蠕变倒装芯片BGA
Sn-3.0Ag-0.5Cu无铅焊点在大电流密度下的蠕变行为研究
进入二十一世纪以来,随着欧美日等工业发达国家对有铅钎料禁止其生产及使用,有关无铅钎料的相关研究蓬勃开展。Sn-Ag-Cu系无铅焊料由于其具有优异的力学性能,被认为是Sn-Pb焊料最佳的替代品之一。  由于Sn-Ag-Cu...
柴駪
关键词:蠕变行为大电流密度封装结构
文献传递
共1页<1>
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