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黄启圣
作品数:
26
被引量:21
H指数:3
供职机构:
厦门大学物理与机电工程学院物理学系
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福建省自然科学基金
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合作作者
康俊勇
学习院大学理学部
吴正云
厦门大学物理与机电工程学院物理...
余辛
厦门大学物理与机电工程学院物理...
王小军
厦门大学物理与机电工程学院物理...
詹华瀚
厦门大学物理与机电工程学院物理...
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1995
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1994
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1992
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1991
1篇
1989
3篇
1986
共
26
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GaN外延层中的缺陷对光学性质的影响
被引量:1
1999年
用金属有机化合物气相外延(MOVEP)方法生长具有不同表面形貌的非掺杂GaN,并对部分样品的外延层表面进行镜面加工.用阴极射线发光、光散射和拉曼散射方法观察GaN中深能级发光、缺陷散射光分布和拉曼散射光频移.结果表明,缺陷不但影响GaN的发光和光散射。
康俊勇
黄启圣
小川智哉
关键词:
光学性质
外延层
氧化镓
半导体激光器激活区中一维量子线的研制
1995年
采用一维量子线阵列结构作为激活区的半导体激光器与采用二维量子阱结构激活区的常用激光器相比,具有许多优越的性能。利用能量为40KeV的Ga+离子注人到Al0.3Ga0.7As/GaAs二维量子阱,再经白光快速退火,制备了线宽500~40nm的一维量子线并研究其光电特性。
吴正云
吴河浚
黄启圣
关键词:
半导体激光器
量子尺寸效应
离子注入
InGaAs/GaAs应变单量子阱的表面光伏谱
被引量:1
1998年
采用表面光伏谱方法,测量了应变InGaAs/GaAs单量子阱在不同温度下光伏效应.结合理论计算对样品表面光伏谱的谱峰进行了指认,分析了量子阱内子能级间的跃迁能量。
余辛
吴正云
黄启圣
关键词:
应变量子阱
砷化镓
INGAAS
InGaAs/GaAs应变量子阱的低温光伏谱
被引量:1
1997年
用光伏谱方法研究了InGaAs/GaAs应变量子阱结构中各子能级间的光跃迁,并与理论计算的结果进行了比较.分析了光伏谱峰能量随阱宽与温度的变化,并讨论了光伏谱峰强度的温度关系.
吴正云
王小军
余辛
黄启圣
关键词:
应变量子阱
AlGaAs混晶中的Sn施主深能级
1991年
用DLTS(深能级瞬态谱)及光照DLTS方法研究了不同组分(x=0.26、0.40、0.53)的 Al_xGa_(1-x)As:Sn材料。所有实验样品的DLTS谱都出现两个多子谱峰A和B。在光照下,低温处的A峰更为明显。实验分别测量了A、B能级的发射及俘获的瞬态过程,用混晶无序引起能级展宽模型拟合了实验数据,得到它们的发射激活能,俘获势垒及其组分关系。分析表明,A 及B能级同属于Sn替位施主杂质,并证明DX中心深能级的复杂性。
康俊勇
林虹
黄启圣
关键词:
ALGAAS
SN
深能级
Laplace缺陷谱方法研究
被引量:1
1997年
本文讨论了研究半导体缺陷深能级瞬态谱中遇到的多指数分解问题,并使用共轭梯度计算法对瞬态谱进行数值Laplace逆变换处理来实现多指数瞬态的分解.结果表明,此方法具有较高的分辨率,而且存储和计算量较小,适用于进行常规的深能级瞬态精细结构测量.
詹华瀚
康俊勇
黄启圣
关键词:
深能级
用共轭梯度法分解多指数瞬态
1997年
采用共轭梯度法处理半导体深能级研究中遇到的多指数瞬态分解问题,数值计算表明这种方法具有较高的分辨率,可应用于多指数函数分解和电子发射过程的精细结构研究.
詹华瀚
康俊勇
黄启圣
关键词:
共轭梯度法
半导体
用光伏谱方法研究InGaAs/GaAs应变量子阱的性质
被引量:2
1997年
采用低温光伏谱方法,研究了应变In018Ga082/GaAs单量子阱结构中各子能级之间的光跃迁,并与理论计算的结果进行比较,对光伏谱的谱峰跃迁能量随温度变化的分析,表明量子阱中的应变与温度基本无关.研究了光伏谱的谱峰半高宽度随温度的变化关系.讨论了声子关联。
吴正云
王小军
余辛
黄启圣
关键词:
铟镓砷
砷化镓
应变量子阱
Ⅲ-V化合物及混晶中的深中心
黄启圣
关键词:
辐照
驰豫
液封坩埚下降法生长非掺杂InP单晶的特性研究
1997年
用液封坩埚下降(LE-VB)法沿〈100〉晶向成功地生长了非掺杂InP单晶.LE-VB晶体的4.2K光致发光谱包含束缚于中性浅受主上的激子发光、与Zn受主相关的施主-受主(DA)对发光及其声子伴线、以及与本征缺陷等有关的深能级发光三部分.通过与液封直拉(LEC)生长的籽晶的光致发光谱比较表明,在LE-VB晶体中,束缚于中性浅受主上的激子发光与籽晶中的相差不大;DA对发光的晶格弛豫比籽晶中的小;与本征缺陷等有关的深能级发光强度比籽晶中的弱.晶体的室温光致发光谱仅包含带—带发光,其发光强度形貌测试结果表明,LE-VB晶体的带—带发光强度比LEC籽晶的强.用Huber法对晶片腐蚀的结果表明,在LE-BV晶体中,位错密度仅为LEC籽晶中的三分之一.分析认为,在LE-VB晶体中,本征缺陷和位错等浓度较低,可能是其带—带发光强度比在LEC籽晶中强的物理起因.
康俊勇
黄启圣
松本文夫
福田承生
关键词:
化合物半导体
光致发光
晶体生长
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