桂东
- 作品数：8 被引量：20H指数：2
- 供职机构：安徽大学化学化工学院安徽省绿色高分子材料重点实验室更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学电子电信自然科学总论一般工业技术更多>>
- 羧甲基葡聚糖/羟基磷灰石纳米复合微粒的制备与表征被引量：1
- 2007年
- 通过对葡聚糖进行改性得到可溶性的羧甲基葡聚糖(CMG),以此为模板制备了羧甲基葡聚糖/羟基磷灰石(HA)纳米复合微粒,采用TEM、FTIR、XRD、Zeta电位等测试方法对复合微粒的结构和性质进行表征.结果表明所制备的羧甲基葡聚糖/羟基磷灰石纳米复合微粒为核壳式结构,大小较为均一,分散性较好,性质稳定.
- 郭文豪沈玉华谢安建桂东裘灵光
- 关键词：羟基磷灰石纳米复合微粒
- 二次离子质谱学的新进展被引量：14
- 2001年
- 简要回顾了二次离子质谱学的形成和发展 ,从原始概念出发概括分析了学科的特点 ,据此评述了其领域的拓宽和现状。结合近 5年来国内外的最新进展 ,以微电子学和光电子学为重点 ,兼顾生物和医学、地质和天体学科、纳米科技和环境监测等领域 ,讨论了其前沿在世纪之交对SIMS提出的挑战 ,介绍了定量分析和仪器的发展现状。有重点地结合一些实例 。
- 查良镇桂东朱怡峥
- 关键词：微电子学光电子学质谱仪器质谱分析
- 表面化学分析.溅射深度剖析.用层状膜系为参考物质的优化方法
- 为使俄歇电子能谱、X射线光电子能谱和二次离子质谱的仪器设定达到深度分辨的优化目的，本标准采用适当的单层和多层膜系参考物质，提供优化溅射深度剖析参数的指南。 特殊多层膜系（如各种掺杂层膜系）的使用不包括在本标准内。
- 查良镇陈旭王光普黄雁华黄天斌刘林葛欣桂东
- 文献传递
- 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
- 本标准详细说明了用标定的均匀掺杂物质（用注入硼的参考物质校准）确定单晶硅中硼的原子浓度的二次离子质谱方法。它适用于均匀掺杂硼浓度范围从1×10<上标16>atoms/cm<上标3>～1×10<上标20>atoms/cm<...
- 查良镇陈旭黄雁华王光普黄天斌刘林葛欣桂东
- 文献传递
- 硅基半导体二次离子发射的基体效应及定量分析
- 根据世纪之交半导体领域对SIMS定量分析提出的新挑战,以夺基材料与器件为主要对象,研究了二次离子发射基体效应和定量分析的几个前沿课题.
- 桂东
- 关键词：硅基
- 文献传递
- 二次离子质谱的深度分辨本领被引量：6
- 2000年
- 深度剖析是二次离子质谱在半导体以及各种其它薄膜材料分析中最重要的应用 ,深度分辨本领是表征其分析能力的重要参数 ,国际标准化组织 ( ISO)最近正在研究和制定这方面的国际标准。本文在概述了SIMS深度分辨本领影响因素的基础上 ,推导了δ掺杂层深度分辨函数的解析表达式 ,讨论了其物理意义 ,特别是分辨参数的定义。在 CAMECA IMS4 f仪器上用 5.5ke V的氧束对 Si中 Ga Asδ掺杂多层膜样品进行了深度剖析 ,讨论了所得分辨参数及影响因素。结合国外实验室 ISO巡回测试的结果 。
- 朱怡峥桂东陈娉马农农韩象明查良镇
- 关键词：二次离子质谱半导体
- 我国二次离子质谱学的一些进展
- 查良镇桂东
- 关键词：离子探针地球科学
- GaAs二次离子发射的氧和铯效应
- 1998年
- 在二次离子质谱学中，氧和铯效应是影响二次离子发射最重要和复杂的现象。概括地总结了自９０年代以来对ＧａＡｓ二次离子发射氧和铯效应基础研究的主要成果。在准静态条件下，解决了用惰性气体Ａｒ＾＋源注氧研究复杂ＧａＡｓ基体上二次离子发射氧效应的主要困难，得到了表面注氧和覆铯使ＧａＡｓ二次离子产额和能量分布变化的实验规律，用ＴＯＦ－ＳＩＭＳ研究了砷化镓中ＭＣｓ＾＋ ＭＣｓ２＾＋等原子团离子的发射特性。
- 桂东查良镇
- 关键词：砷化镓
