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机构

  • 12篇北京工业大学
  • 1篇中国科学院微...
  • 1篇中国科学院大...

作者

  • 12篇郭敏
  • 6篇吕长志
  • 4篇彭振宇
  • 3篇齐浩淳
  • 3篇杨娟
  • 3篇谢红云
  • 3篇张小玲
  • 3篇谢雪松
  • 2篇佘硕杰
  • 1篇刘书萌
  • 1篇李志国
  • 1篇马卫东
  • 1篇佘烁杰
  • 1篇王任卿
  • 1篇刘庆
  • 1篇郭春生
  • 1篇王立新
  • 1篇黄春益
  • 1篇杨娟
  • 1篇李颖

传媒

  • 2篇微电子学与计...
  • 2篇微电子学

年份

  • 1篇2022
  • 3篇2021
  • 1篇2019
  • 1篇2013
  • 4篇2012
  • 2篇2011
13 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种基于电流差值的低工艺漂移的BiCMOS过温保护电路被引量:2
2021年
过温保护电路是功率集成电路中一个重要的功能模块.本文设计了基于电流差值的过温保护电路,基于XFAB0.6μm BCD工艺,完成了全工艺角模拟仿真.在100多个工艺角下的仿真结果表明:基于电流差值的过温保护电路过温关断阈值点和过温恢复阈值点的波动相比于传统的电压型结构的过温保护电路减小了50%以上,表明提出的基于电流差值的过温保护电路具有低工艺漂移的特性.
张洪凯王立新陈润泽郭敏
关键词:过温保护BCD工艺
一种动态频率补偿LDO的电路设计被引量:2
2012年
设计了一种动态频率补偿、高稳定性的LDO电路.针对具有Buffer缓冲器的LDO环路稳定特性随负载变化而变化的特点,给出一种新型的LDO频率补偿结构.这种补偿结构能很好地根据负载电流的变化,动态地改变环路次级极点的位置,进而提高环路稳定性.设计采用TSMC 0.35μm标准CMOS工艺,利用Spectre工具对电路的性能进行了模拟,仿真结果表明此电路结构在整个负载变化范围内相位裕度均大于88°,系统具有高稳定性.
彭振宇吕长志郭敏杨娟
关键词:LDO稳定性
一种具有光子晶体结构的侧面入射型SOI基Si/SiGe HPT的制备方法
一种具有光子晶体结构的侧面入射的SOI基Si/SiGe HPT的制备方法,属于半导体技术领域,制备方法包括:在SOI衬底上制备SOI基Si/SiGe HPT外延材料,制备光子晶体结构,刻蚀形成基区、集电区台面,外延钝化层...
谢红云刘先程向洋郭敏沙印张万荣
文献传递
一种电子镇流器的自启动电路
本发明公开了一种基于电子镇流器功率因数校正(Power Factor Correction)电路的自启动电路(Starter Circuit)。该电路由电流偏置单元(1)、或非门单元(2)、充放电单元(3)、反相器单元(...
谢雪松彭振宇张小玲齐浩淳佘硕杰杨娟郭敏吕长志
文献传递
一种SOI基SiGe双异质结光敏晶体管探测器
本发明公开了一种SOI基SiGe双异质结光敏晶体管探测器,采用SOI衬底替换Si衬底。该探测器包括一SOI衬底,由下层Si层和SiO<Sub>2</Sub>层构成;在SOI衬底上依次制备出一Si次集电区、一Si集电区、一...
谢红云刘先程沙印郭敏马佩张万荣
文献传递
一种电子镇流器的自启动电路
本发明公开了一种基于电子镇流器功率因数校正(Power Factor Correction)电路的自启动电路(Starter Circuit)。该电路由电流偏置单元(1)、或非门单元(2)、充放电单元(3)、反相器单元(...
谢雪松彭振宇张小玲齐浩淳佘硕杰杨娟郭敏吕长志
一种具有光子晶体结构的侧面入射型SOI基Si/SiGe HPT的制备方法
一种具有光子晶体结构的侧面入射的SOI基Si/SiGe HPT的制备方法,属于半导体技术领域,制备方法包括:在SOI衬底上制备SOI基Si/SiGe HPT外延材料,制备光子晶体结构,刻蚀形成基区、集电区台面,外延钝化层...
谢红云刘先程向洋郭敏沙印张万荣
可编程增益放大器电路
本实用新型提出了具有复位功能的可编程增益放大器,包括:运放单元组,用于对输入信号进行放大或缩小;电阻网络单元,与所述运放单元组的输出端连接,通过所述电阻网络单元的等效电阻比值来调节所述输入信号放大或缩小的倍数;以及开关组...
吕长志彭振宇齐浩淳佘烁杰刘庆刘书萌郭敏杨娟王任卿
文献传递
Arrhenius方程应用新方法研究被引量:11
2011年
提出了一种快速评价电子元器件的新方法,该方法具有快速、准确、成本低、效率高等优点。利用Arrhenius方程,能快速准确地确定元器件退化的失效敏感参数和退化机理;可对单样品求出与失效机理相关的失效激活能和寿命;通过多样品试验,可得到寿命分布、寿命加速特性和失效率等可靠性参数。以DC/DC电源变换器和高频小功率管3DG130为例,通过实验与现场数据的对比,证明了新方法的正确性和有效性。该方法适用于失效率优于10-7/h(λ<10-7/h)的高可靠性产品的定量评价。
马卫东吕长志李志国郭春生郭敏李颖
关键词:激活能
DC/DC组件电学参数退化法加速寿命试验方法的研究
DC/DC组件以其体积小、重量轻、功率密度大、效率高、可靠性高等特点,广泛应用于航天、航空、海军等国防及其他各个领域的电子系统中。而系统运行过程中往往不允许检修或只能简单维护,从而,DC/DC组件的可靠性就直接决定了整个...
郭敏
关键词:加速寿命试验数据处理
共2页<12>
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