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文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇倒装芯片
  • 2篇凸点
  • 2篇芯片
  • 2篇封装
  • 2篇UBM
  • 1篇倒装
  • 1篇电镀
  • 1篇电子封装
  • 1篇圆片
  • 1篇圆片级
  • 1篇圆片级封装
  • 1篇微电子
  • 1篇微电子封装
  • 1篇芯片凸点
  • 1篇金凸点
  • 1篇可靠性
  • 1篇溅射
  • 1篇光刻
  • 1篇焊料
  • 1篇焊料凸点

机构

  • 3篇清华大学

作者

  • 3篇郭江华
  • 2篇王水弟
  • 2篇胡涛
  • 2篇贾松良
  • 1篇谭智敏
  • 1篇张忠会
  • 1篇蔡坚

传媒

  • 2篇半导体技术

年份

  • 1篇2004
  • 2篇2001
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
倒装芯片凸点及其UBM制作工艺的研究
过去的十年里,随着微电子产品的小型化,倒装芯片技术得到了迅猛的发展.目前倒装芯片技术中常用的两类凸点是Au凸点和Pb/Sn焊料凸点.倒装芯片技术经过接近40年的发展,已出现了多种圆片凸点制作技术.较为常用的有:电镀法、模...
郭江华
关键词:倒装芯片焊料凸点UBM可靠性
文献传递
用于圆片级封装的金凸点研制被引量:5
2004年
介绍了电镀法进行圆片级封装中金凸点制作的工艺流程,并对影响凸点成型的主要工艺因素进行了研究。凸点下金属化层(UBM,under bump metallization)溅射、厚胶光刻和厚金电镀是其中的工艺难点,通过大量的实验研究,确定了TiW/Au的UBM体系,得到了优化的厚胶光刻工艺。同时,研制了用于圆片级封装金凸点制作的垂直喷镀设备,选用不同的电镀液体系和光刻胶体系,对电镀参数进行了控制和研究。对制作的金凸点与国外同类产品的基本特性进行了对比,表明其已经达到可应用水平。
王水弟蔡坚谭智敏胡涛郭江华贾松良
关键词:金凸点电镀圆片级封装厚胶光刻溅射
倒装芯片凸焊点的UBM被引量:18
2001年
介绍了倒装芯片凸焊点的焊点下金属(UBM)系统,讨论了电镀Au凸焊点用UBM的溅射工艺和相应靶材、溅射气氛的选择,给出了凸焊点UBM质量的考核试验方法和相关指标。
郭江华王水弟张忠会胡涛贾松良
关键词:倒装芯片UBM微电子封装
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