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张昉昉

作品数:4 被引量:1H指数:1
供职机构:中国科学院半导体研究所更多>>
发文基金:“九五”国家科技攻关计划更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇会议论文
  • 1篇期刊文章

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 3篇分子束
  • 3篇分子束外延
  • 2篇量子
  • 2篇量子点
  • 2篇分子束外延生...
  • 2篇MBE
  • 2篇MBE生长
  • 1篇自组织量子点
  • 1篇自组织生长
  • 1篇量子点材料
  • 1篇沟道
  • 1篇分子束外延技...
  • 1篇Δ掺杂
  • 1篇PHEMT
  • 1篇SI衬底
  • 1篇INAS量子...
  • 1篇INGAAS...
  • 1篇MM-HEM...
  • 1篇材料性能
  • 1篇掺杂

机构

  • 4篇中国科学院

作者

  • 4篇曾一平
  • 4篇张昉昉
  • 3篇朱战平
  • 3篇王保强
  • 2篇李灵霄
  • 2篇孔梅影
  • 1篇李晋闽
  • 1篇林兰英
  • 1篇段瑞飞
  • 1篇王保强
  • 1篇朱战萍
  • 1篇潘量
  • 1篇崔利杰
  • 1篇曹昕

传媒

  • 3篇第六届全国分...
  • 1篇Journa...

年份

  • 3篇2001
  • 1篇2000
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
MBE生长的高质量AlGaAs/InGaAs双δ掺杂PHEMT结构的材料被引量:1
2000年
用 MBE方法制备的 PHEMT微结构材料 ,其 2 DEG浓度随材料结构的不同在 2 .0— 4.0× 1 0 12 cm- 2 之间 ,室温霍耳迁移率在 50 0 0— 650 0 cm2 · V- 1· s- 1之间 .制备的 PHEMT器件 ,栅长为 0 .7μm的器件的直流特性 :Idss~ 2 80 m A/mm,Imax~ 52 0— 580 m A/mm,gm~ 32 0— 40 0 m S/mm,BVDS>1 5V( IDS=1 m A/mm) ,BVGS>1 0 V,微波特性 :P0 ~ 60 0— 90 0 m W/mm,G~ 6— 1 0 d B,ηadd~ 40— 60 % ;栅长为 0 .4μm的器件的直流特性 :Imax~ 80 0 m A/mm,gm>40 0 m S/mm.
曹昕曾一平孔梅影王保强潘量张昉昉朱战萍
关键词:PHEMTMBE掺杂
InGaAs沟道层中In组分含量对MM-HEMT材料性能的影响
采用MEB技术制备了一系列沟道层不同In组分含量的MM-HEMT材料.结果发现,随In组分含量的变化,材料的电子迁移率有一最佳值,对这一结果给予了解释.
崔利杰朱战平王保强张昉昉曾一平李灵霄林兰英
关键词:分子束外延技术MM-HEMT材料材料性能
文献传递
低In组分InxGa1-xAs/GaAs自组织量子点的MBE生长
我们用MBE生长了低组分In<,x>Ga<,1-x>As/GaAs量子点(x=0.3和0.5),反射高能电子衍射仪(RHEED)显示了良好的2×4再构向三维生长的点状图象转化的过程.同时,原子力显微镜(AFM)实验表明,...
段瑞飞曾一平孔梅影张昉昉朱战平王保强李灵霄
关键词:自组织生长INGAAS/GAAS分子束外延生长量子点材料
文献传递
Si衬底上用MBE方法生长InAs量子点
本文采用分子束外延设备,实现了在Si衬底上直接生长InAs量子点.在生长过程中,通过RHEED观察到了S-K生长模式.
张昉昉曾一平李晋闽王保强朱战平
关键词:INAS量子点分子束外延生长SI衬底
文献传递
共1页<1>
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