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何莲萍

作品数:2 被引量:5H指数:1
供职机构:上海交通大学更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇多晶
  • 1篇多晶硅
  • 1篇氧化硅
  • 1篇氧化硅薄膜
  • 1篇吸杂
  • 1篇硅薄膜
  • 1篇硅片
  • 1篇二氧化硅
  • 1篇二氧化硅薄膜
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体器件
  • 1篇SIH
  • 1篇SIO
  • 1篇LPCVD
  • 1篇MOS电路
  • 1篇O

机构

  • 2篇上海交通大学

作者

  • 2篇汪师俊
  • 2篇李积和
  • 2篇何莲萍
  • 1篇沈天慧

传媒

  • 2篇微电子学与计...

年份

  • 1篇1997
  • 1篇1995
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
用多晶硅吸杂和SiO_2背封工艺提高硅片质量被引量:5
1997年
我们对多晶硅吸荣和SiO_2背封二种工艺进行了系统的深入的实用性研究,解决了VLSI用外延片衬底的关键技术,提高了硅片质量并实现产业化。多晶硅每炉可生长约100mm(4英寸)硅片150~300片,SiO^2每炉生长100片。由于硅片质量好,工艺稳定,硅片已远销国外。
沈天慧李积和何莲萍陈青松汪师俊
关键词:吸杂二氧化硅硅片多晶硅MOS电路
SiH_4-O_2体系LPCVD SiO_2薄膜的工艺及其应用
1995年
本文研究了SiH4—O2体系LPCVDSiO2的工艺及设备。为了得到厚度均匀性好的薄膜,改进了反应气体的进气方式和装片舟的结构,获得了每炉100片、直径为100mm的硅片的膜厚不均匀性≤士5%的结果。
汪师俊何莲萍李积和
关键词:二氧化硅薄膜LPCVD半导体器件
共1页<1>
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