2025年3月9日
星期日
|
欢迎来到青海省图书馆•公共文化服务平台
登录
|
注册
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
何莲萍
作品数:
2
被引量:5
H指数:1
供职机构:
上海交通大学
更多>>
相关领域:
电子电信
更多>>
合作作者
李积和
上海硅材料厂
汪师俊
上海交通大学
沈天慧
上海硅材料厂
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
2篇
中文期刊文章
领域
2篇
电子电信
主题
1篇
电路
1篇
多晶
1篇
多晶硅
1篇
氧化硅
1篇
氧化硅薄膜
1篇
吸杂
1篇
硅薄膜
1篇
硅片
1篇
二氧化硅
1篇
二氧化硅薄膜
1篇
半导体
1篇
半导体器件
1篇
SIH
1篇
SIO
1篇
LPCVD
1篇
MOS电路
1篇
O
机构
2篇
上海交通大学
作者
2篇
汪师俊
2篇
李积和
2篇
何莲萍
1篇
沈天慧
传媒
2篇
微电子学与计...
年份
1篇
1997
1篇
1995
共
2
条 记 录,以下是 1-2
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
用多晶硅吸杂和SiO_2背封工艺提高硅片质量
被引量:5
1997年
我们对多晶硅吸荣和SiO_2背封二种工艺进行了系统的深入的实用性研究,解决了VLSI用外延片衬底的关键技术,提高了硅片质量并实现产业化。多晶硅每炉可生长约100mm(4英寸)硅片150~300片,SiO^2每炉生长100片。由于硅片质量好,工艺稳定,硅片已远销国外。
沈天慧
李积和
何莲萍
陈青松
汪师俊
关键词:
吸杂
二氧化硅
硅片
多晶硅
MOS电路
SiH_4-O_2体系LPCVD SiO_2薄膜的工艺及其应用
1995年
本文研究了SiH4—O2体系LPCVDSiO2的工艺及设备。为了得到厚度均匀性好的薄膜,改进了反应气体的进气方式和装片舟的结构,获得了每炉100片、直径为100mm的硅片的膜厚不均匀性≤士5%的结果。
汪师俊
何莲萍
李积和
关键词:
二氧化硅薄膜
LPCVD
半导体器件
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张