您的位置: 专家智库 > >

陆晶

作品数:3 被引量:7H指数:2
供职机构:中国科学院微电子研究所纳米加工与新器件集成重点实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇掩模
  • 2篇分辨率
  • 1篇电路
  • 1篇掩模制作
  • 1篇移相掩模
  • 1篇移相掩模技术
  • 1篇集成电路
  • 1篇交替式
  • 1篇光刻
  • 1篇NM
  • 1篇

机构

  • 2篇中国科学院微...
  • 1篇中国科学院

作者

  • 3篇陆晶
  • 3篇陈宝钦
  • 3篇刘明
  • 2篇李泠
  • 2篇龙世兵
  • 1篇叶甜春
  • 1篇陈大鹏
  • 1篇谢常青
  • 1篇康晓辉
  • 1篇王云翔

传媒

  • 1篇固体电子学研...
  • 1篇微细加工技术
  • 1篇第十三届全国...

年份

  • 1篇2005
  • 2篇2003
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
无铬相位光刻和有铬的常规混合移相掩模制作70nm光刻栅图形的模拟研究
光刻技术一直是集成电路工业发展中的重要推动力,移相掩模是提高光刻分辨率的重要分辨率增强技术.本文对无铬相位光刻和有铬的常规混合移相掩模进行了初步研究,采用PROLITH8.0光学光刻模拟软件,在ArF步进扫描光刻机、Qu...
谢常青刘明陈宝钦陈大鹏康晓辉陆晶叶甜春
关键词:集成电路
文献传递
100nm分辨率的移相掩模技术被引量:5
2003年
介绍了移相掩模技术的基本原理,对几种主要的移相掩模技术进行了比较,指出了各种移相方式的特点和应用局限性,并针对100nm分辨率的技术节点,阐述了各种移相方式在应用中应该解决的问题。
陆晶陈宝钦刘明王云翔龙世兵李泠
关键词:分辨率移相掩模光刻交替式
100 nm分辨率交替式移相掩模设计被引量:2
2005年
讨论了100nm分辨率交替式移相掩模设计中的关键问题,以及通过对版图的拓扑分析,建立自动化的解决相位冲突的各种方法。通过比较,确立了分层叠加曝光的方案,并针对分层叠加曝光技术,进行了100nm节点中分层技术中两种关键图形的模拟。得出了分层叠加曝光在100nm技术节点中也可以实现的结论。
陆晶陈宝钦刘明龙世兵李泠
共1页<1>
聚类工具0