公共文化服务平台

共 2 条记录，以下是 1-2

全选清除导出

排序方式：

一种利用变通的离子散射谱测量进行浓度定标的二次离子质谱深度剖析定量方法: 1996年; 本工作利用一台不作任何较大改动的ＣＡＭＥＣＡ－ＩＭＳ－３ｆ扇形磁铁型二次离子质谱仪对传统的离子散射谱（ＩＳＳ）分析技术进行了适当的变通，并对二次离子质谱分析（ＳＩＭＳ）的深度剖析谱进行了浓度定标。在保留ＳＩＭＳ分析高灵敏度、高深度分辨率的前提下，实现了对块体样品中的掺杂元素的ＳＩＭＳ定量深度剖析。通过与离子注入机标称的注入剂量及卢瑟福背散射的定量分析结果相比较，本方法的定量准确度一般好于１０％。而精确度则好于５％。本文对该方法的背景、基本原理、实验方法，准确度及优缺点等进行了较详细的讨论。; 宋玲根张永夏蔡磊宗祥福; 关键词：二次离子质谱

铅同位素比值的飞行时间二次离子质谱法测量被引量：2: 1996年; 介绍了用飞行时间二次离子质谱法对器物中的铅同位素比值的测量。在仔细地讨论了质量干扰、二次离子产额的同位素分馆效应等对测量结果的影响后，认为本工作无需标准样品，可以实现对样品无损的高质量分辨的二次离子质谱分析。铅同位素比值的测量精确度优于１％。; 宋玲根蔡磊任云珠李白云陶莹曹永明宗祥福

全选清除导出

共1页<1>

蔡磊