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文献类型

  • 12篇中文专利

领域

  • 1篇理学

主题

  • 8篇碲镉汞
  • 4篇碲锌镉
  • 4篇碲镉汞薄膜
  • 4篇光致
  • 4篇光致发光
  • 4篇发光
  • 3篇凸起
  • 3篇围栏
  • 3篇测试台
  • 3篇尺寸
  • 2篇导电类型
  • 2篇电极
  • 2篇电极处理
  • 2篇银丝
  • 2篇载流子
  • 2篇谱图
  • 2篇迁移
  • 2篇迁移率
  • 2篇铝质
  • 2篇烙铁头

机构

  • 12篇中国电子科技...

作者

  • 12篇许秀娟
  • 9篇折伟林
  • 4篇周立庆
  • 4篇朱西安
  • 4篇巩锋
  • 2篇王经纬
  • 2篇晋舜国
  • 2篇周翠
  • 2篇高达

年份

  • 2篇2021
  • 1篇2019
  • 1篇2018
  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 2篇2015
  • 3篇2014
  • 1篇2013
12 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种用于碲镉汞薄膜电学性能测试的电极处理方法
本发明公开了一种用于碲镉汞薄膜电学性能测试的电极处理方法,包括:将铝质烙铁头的烙铁温度调节到186~210摄氏度,使用助焊剂将纯度为99.999%以上的铟焊接到银丝引线的一端,形成铟球;去除铟球表面附着的助焊剂;将铝质烙...
许秀娟折伟林周翠晋舜国
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一种碲镉汞薄膜组分的测试方法
本发明提供了一种碲镉汞薄膜组分的测试方法,包括:将待处理的碲镉汞薄膜固定在样品台上,并将样品台放入红外光谱仪的样品腔室中;对样品腔室和红外光谱仪分别抽真空,再将样品腔室温度降至预定温度;启动红外光谱仪,按照预定调节范围调...
许秀娟高达折伟林王经纬
承载碲锌镉样品的装置
本实用新型公开了一种承载碲锌镉样品的装置,该装置包括:方形平台,用于放置碲锌镉样品,方形平台的厚度不小于第一预设值;在方形平台的相邻两个边沿处设置垂直于方形平台的围栏,围栏用于保护碲锌镉样品位置移动导致滑落,围栏的高度不...
许秀娟巩锋周立庆折伟林朱西安
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承载碲锌镉样品的装置和测试碲锌镉中Zn组分的方法
本发明公开了一种承载碲锌镉样品的装置和测试碲锌镉中Zn组分的方法,其中,该装置包括:方形平台,用于放置碲锌镉样品,方形平台的厚度不小于第一预设值;在方形平台的相邻两个边沿处设置垂直于方形平台的围栏,围栏用于保护碲锌镉样品...
许秀娟巩锋周立庆折伟林朱西安
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一种碲镉汞薄膜组分的测试方法
本发明提供了一种碲镉汞薄膜组分的测试方法,包括:将待处理的碲镉汞薄膜固定在样品台上,并将样品台放入红外光谱仪的样品腔室中;对样品腔室和红外光谱仪分别抽真空,再将样品腔室温度降至预定温度;启动红外光谱仪,按照预定调节范围调...
许秀娟高达折伟林王经纬
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承载碲锌镉样品的装置和测试碲锌镉中Zn组分的方法
本发明公开了一种承载碲锌镉样品的装置和测试碲锌镉中Zn组分的方法,其中,该装置包括:方形平台,用于放置碲锌镉样品,方形平台的厚度不小于第一预设值;在方形平台的相邻两个边沿处设置垂直于方形平台的围栏,围栏用于保护碲锌镉样品...
许秀娟巩锋周立庆折伟林朱西安
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一种对碲镉汞pn结材料进行测试的方法
本发明公开了一种对碲镉汞pn结材料进行测试的方法,本发明采用动态变换的磁场强度来对碲镉汞pn结材料进行霍尔测量,实验证明,本发明方法进行霍尔测量的测量结果更准确,所以本发明的方法能够有效解决现有技术中固定磁场的霍尔测量不...
许秀娟
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一种对碲镉汞pn结材料进行测试的方法
本发明公开了一种对碲镉汞pn结材料进行测试的方法,本发明采用动态变换的磁场强度来对碲镉汞pn结材料进行霍尔测量,实验证明,本发明方法进行霍尔测量的测量结果更准确,所以本发明的方法能够有效解决现有技术中固定磁场的霍尔测量不...
许秀娟
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一种低温光致发光测试中样品台的固定装置
本实用新型公开了一种低温光致发光测试中样品台的固定装置,包括:侧壁夹板、第一部件、第二部件和底座,其中,两个侧壁夹板,分别与第一部件连接,分别位于第一部件的两侧,两个侧壁夹板相对设置,且两个侧壁夹板相对的内壁平面平行设置...
许秀娟巩锋周立庆折伟林朱西安
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用于碲镉汞薄膜霍尔测试样品的承载装置及霍尔测试系统
本实用新型提出了一种用于碲镉汞薄膜霍尔测试样品的承载装置及霍尔测试系统。所述用于碲镉汞薄膜霍尔测试样品的承载装置包括底部支撑架,所述底部支撑架包括安装面和设置于所述安装面的前侧的保护挡板,所述保护挡板自所述安装面向上延伸...
许秀娟折伟林
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共2页<12>
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